สมาชิกวีไอพี
การวิเคราะห์คาร์บอนเตตราฟลูออไรด์ฮีเลียมไอออนโครมาโตกราฟี
ฮีเลียมไอออน chromatography เหมาะสำหรับการตรวจสอบสิ่งสกปรกร่องรอยในก๊าซที่ใช้ในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์ความเข้มข้นของการตรวจจับขนาดเล็กสามารถเข้าถึง 5
รายละเอียดสินค้า
- คำอธิบายผลิตภัณฑ์
การวิเคราะห์คาร์บอนเตตราฟลูออไรด์ฮีเลียมไอออนโครมาโตกราฟีติดตั้งเครื่องตรวจจับไอออนของฮีเลียมที่มีความไวสูงโดยใช้เทคโนโลยีการตัดศูนย์ของ บริษัท Huaai วาล์วตัวอย่างทั้งหมดมีเส้นทางก๊าซป้องกันการเป่า เครื่องทั้งหมด adopts การออกแบบกล่องหลายคอลัมน์และติดตั้งระบบการแก้ไขอัตโนมัติของความดันตัวอย่างเพื่อให้แน่ใจว่าปริมาณของตัวอย่างที่นำเข้ามาจากความมั่นใจที่แตกต่างกัน ผลิตภัณฑ์ได้รับรางวัลโครงการเกรด A สำหรับการแปลงความสำเร็จของเทคโนโลยีชั้นสูงของเซี่ยงไฮ้อย่างต่อเนื่อง
| โครงการ | ตัวชี้วัด | ||
| คาร์บอน Tetrafluoride ( CF4) ความบริสุทธิ์ (เศษส่วนปริมาณ) / 10-2≥ | 99.999 | 99.995 | 99.99 |
| ไนโตรเจน ( N2) เนื้อหา (เศษส่วนปริมาตร) / 10-6＜ | 4 | 20 | 40 |
| ออกซิเจน + อาร์กอน ( O2+ Ar) เนื้อหา (เศษส่วนปริมาตร) / 10-6＜ | 1 | 5 | 10 |
| ก๊าซคาร์บอนไดออกไซด์ ( CO2) เนื้อหา (เศษส่วนปริมาตร) / 10-6＜ | 1 | 5 | 10 |
| คาร์บอนมอนอกไซด์ (CO) เนื้อหา (เศษส่วนปริมาตร) / 10-6＜ | 0.1 | 0.5 | 1 |
| ซัลเฟอร์เฮกซาฟลูออไรด์ ( SF6) เนื้อหา (เศษส่วนปริมาตร) / 10-6＜ | 1 | 1 | 5 |
| ความชื้น ( H2O) เนื้อหา (เศษส่วนปริมาตร) / เนื้อหา 10-6＜ | 3 | 5 | 10 |
| ความเป็นกรด (เป็น HF) เนื้อหา (เศษส่วนปริมาตร) / 10-6＜ | 0.1 | 0.3 | 0.3 |
| สารประกอบฮาโลเจนคาร์บอนอื่น ๆaเนื้อหา (เศษส่วนปริมาตร) / 10-6＜ | 1 | 10 | 30 |
| เนื้อหาสิ่งสกปรกทั้งหมด (เศษส่วนปริมาตร) / l0-6 ≤ | 10 | 50 | 10 |
| เม็ดพลาสติก | ข้อตกลงระหว่างอุปสงค์และอุปทาน | ข้อตกลงระหว่างอุปสงค์และอุปทาน | ข้อตกลงระหว่างอุปสงค์และอุปทาน |
|
สารประกอบฮาโลเจนคาร์บอนอื่น ๆ ได้แก่ Hexafluoroethane, Octafluoropropane เป็นต้น
| |||
สอบถามออนไลน์
-
ติดต่อ
-
บริษัท
-
โทรศัพท์
-
อีเมล์
-
วีแชท
-
รหัสยืนยัน
-
เนื้อหาข้อความ
-